laporan eksperimen X-RAY FLUORESCENCE (XRF)

 PERCOBAAN VI

X-RAY FLUORESCENCE (XRF)

A.          TUJUAN

 Adapun tujuan dari percobaan X-RAY FLUORESCENCE adalah sebagai berikut :

1.      Untuk mengetahui prinsip kerja metode X-RAY FLUORESCENCE (XRF).

2.      Dapat menguasai teknik analisa sampel menggunakan metode XRF.

3.      Dapat menentukan jenis unsur penyusun bahan atau sampel yang di uji menggunakan metode XRF.     

B.           LANDASAN TEORI

Sinar X ditemukan pertama kali oleh fisikawab berkembangsaan Jerman Wilhem C. Routgen pada tanggal 8 novenber 1985. Pada saat itu Roetgen bekerja pada tabung. Dia mengamati nyala lampu hijau pada tabung yang sebelumnya menarik perhatian Crookes. Roetgen selanjutnya mencoba menutup tabung itu dengan kertas hitam dengan harapan agar tidak ada cahaya tampak yang dapat lewat. Sinar X adalah gelombang elektromagnetik yang mempunyai panjang gelombang 10^-8-10^-12m dan frekuensi sekitar 10^-16-10²¹Hz. Inar ini dapat menembus benda-benda lunak seperti daging dan kulit tetapi tidak dapat menembus benda-benda keras sepeti tulang gigi dan logam. Sinar X sering digunakan diberbagai bidang seperti bidang kedokteran fisika, kimia, miniralogy, meterology dan biologi. Sinar X dapat terbentuk apabila partikel bermuatan misalnya elektron oleh pengaruh gaya inti atom bahan dapat mengalami perlambatan. Sinar X yang tidak lain adalah gelombang elektromagnetik yang terbentuk melaluimelalui proses ini disebut sinar X Bremsstrahlung. (http://www.wikipedia.org/wiki/sinar x)

X-ray fluorescence spectrometry (XRF) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga uranium pada level trace element. Secara umum XRF spektrometer mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi floursensi yang dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X. Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar-X nyang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom terget pada sampel terkena sinar berenergi tinggi (http://dunia-wahyu.blogspot.com/2011//11/x-ray-fluorosence-xrf).

Sinar-X dapat terbentuk apabila partikel bermuatan misalnya electron oleh pengaruh gaya inti atom bahan mengalami perlambatan. Sinar-X yang tidak lain adalah gelombang elektromagnetik yang terbentuk melalui proses ini disebut sinar-X bremsstrahlung. Sinar-X yang terbentuk dengan cara demikian mempunyai energi paling tinggi sama dengan energy kinetik partikel bermuatan pada waktu terjadi perlambatan.

         (http://www.sinar-X.blogspot.com).

C.           ALAT DAN BAHAN

 Alat dan bahan yang digunakan pada percobaan eksperimen X-Ray Fluorescence (XRF) dapat dilihat pada tabel berikut :

         Tabel 1.1 Alat dan bahan

No	Nama alat dan bahan	Fungsi	NST
1	Unit X- Ray Apparatus	Sebagai pemancar sinar X
2.	Sensor CASSY	Sebagai penghubung X-RAY Apparatus ke PC
3.	PC Windows 7	Sebagai pengontrol X-RAY Apparatus
4.	Blank Sample	Sebagai bahan yang diujikan
5.	Spektrum sample pembanding	Sebagai pembanding terhadap blank sample

D.      Prosedur Eksperimen

     Prosedur eksperimen yang dilakukan pada percobaan X-Ray Fluorescence adalah sebagai berikut :

1.      Menyiapkan sampel blank.

2.      Merangkai alat X-Ray apparatus dan sensor CASSY

3.      Memasukkan dan menempatkan sampel blank di Target Table dalam X-Ray Apparatus.

4.      Mengatur nilai High Voltage U=35kV, Emission Current I=1,00mA.

5.      Memanggil program CASSY Lab di PC,mengatur parameter pengukuran.

6.      Menekan HV pada X-Ray apparatus.

7.      Menjalankan program dengan menekan F9 pada keyboard.

8.      Mengsave gambar spektrum yang telah diperoleh.

9.      Melakukan langkah – langkah di atas untuk sampel blank yang lain.

10.   Menganalisis hasilnya (unsur penyusun sampel) dengan membandingkan dengan spektrum yang diberika asisten.

E.       DATA PENGAMATAN

Sampel 1

Sampel 2

Sampel 3

Sampel 4

Sampel 5 

Sampel 6

Sampel 7

Sampel 8

Sampel 9

Sampel 10

Asisten Pembimbing

Refliyanis Munandar

F.       PEMBAHASAN

X-ray Flourescence merupakan titik analisa yang non-deduktif yang digunakan untuk mengidentifikasi konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk atau sample cair. Secara umum X-ray Flourescence mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi floursensi yang dihasilkan sampel saat radiasi dengan sinar x. Analisa menggunakan X-ray Flourescence dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar x yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena electron dalam atom target pada sampel terkena sinar berenergi tinggi.

Pada percobaan X-ray Flourescence dilakukan untuk mengamati kandungan dan jumlah energi terdapat pada sampel blank dengan menggunakan alat X-ray Apparatus.

G.      KESIMPULAN

Dari pembahasan di atas dapat ditarik kesimpulan yaitu :

1.      Untuk mengetahui prinsip kerja metode X-Ray fluorescence dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar X yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena electron dalam atom pada sampel yang terkena sinar yang berenergi tinggi.

H.    DAFTAR PUSTAKA

http://dunia-wahyu.blogspot.com/2011//11/x-ray-fluorosence-xrf

            http://www.sinar-X.blogspot.com

            http://www.wikipedia.org/wiki/sinar x