PERCOBAAN VI
X-RAY
FLUORESCENCE (XRF)
A.
TUJUAN
Adapun tujuan dari percobaan X-RAY
FLUORESCENCE adalah sebagai berikut :
1. Untuk
mengetahui prinsip kerja metode X-RAY FLUORESCENCE (XRF).
2. Dapat
menguasai teknik analisa sampel menggunakan metode XRF.
3. Dapat
menentukan jenis unsur penyusun bahan atau sampel yang di uji menggunakan
metode XRF.
B.
LANDASAN
TEORI
Sinar X
ditemukan pertama kali oleh fisikawab berkembangsaan Jerman Wilhem C. Routgen
pada tanggal 8 novenber 1985. Pada saat itu Roetgen bekerja pada tabung. Dia
mengamati nyala lampu hijau pada tabung yang sebelumnya menarik perhatian
Crookes. Roetgen selanjutnya mencoba menutup tabung itu dengan kertas hitam
dengan harapan agar tidak ada cahaya tampak yang dapat lewat. Sinar X adalah
gelombang elektromagnetik yang mempunyai panjang gelombang 10-8-10-12m
dan frekuensi sekitar 10-16-1021Hz. Inar ini dapat
menembus benda-benda lunak seperti daging dan kulit tetapi tidak dapat menembus
benda-benda keras sepeti tulang gigi dan logam. Sinar X sering digunakan diberbagai
bidang seperti bidang kedokteran fisika, kimia, miniralogy, meterology dan
biologi. Sinar X dapat terbentuk apabila partikel bermuatan misalnya elektron
oleh pengaruh gaya inti atom bahan dapat mengalami perlambatan. Sinar X yang
tidak lain adalah gelombang elektromagnetik yang terbentuk melaluimelalui
proses ini disebut sinar X Bremsstrahlung. (http://www.wikipedia.org/wiki/sinar x)
X-ray fluorescence spectrometry (XRF)
merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta
penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair.
XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga uranium pada level trace
element. Secara umum XRF spektrometer mengukur panjang gelombang komponen
material secara individu dari emisi floursensi yang dihasilkan sampel saat
diradiasi dengan sinar-X. Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan
identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar-X nyang terjadi akibat efek fotolistrik.
Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom terget pada sampel terkena
sinar berenergi tinggi (http://dunia-wahyu.blogspot.com/2011//11/x-ray-fluorosence-xrf).
Sinar-X dapat terbentuk apabila partikel bermuatan
misalnya electron oleh pengaruh gaya inti atom bahan mengalami perlambatan.
Sinar-X yang tidak lain adalah gelombang elektromagnetik yang terbentuk melalui
proses ini disebut sinar-X bremsstrahlung. Sinar-X yang terbentuk dengan cara
demikian mempunyai energi paling tinggi sama dengan energy kinetik partikel
bermuatan pada waktu terjadi perlambatan.
C.
ALAT
DAN BAHAN
Alat
dan bahan yang digunakan pada percobaan eksperimen X-Ray Fluorescence (XRF)
dapat dilihat pada tabel berikut :
Tabel 1.1 Alat dan bahan
|
No
|
Nama
alat dan bahan
|
Fungsi
|
NST
|
|
1
|
Unit
X- Ray Apparatus
|
Sebagai
pemancar sinar X
|
|
|
2.
|
Sensor
CASSY
|
Sebagai
penghubung X-RAY Apparatus ke PC
|
|
|
3.
|
PC
Windows 7
|
Sebagai
pengontrol X-RAY Apparatus
|
|
|
4.
|
Blank
Sample
|
Sebagai
bahan yang diujikan
|
|
|
5.
|
Spektrum
sample pembanding
|
Sebagai
pembanding terhadap blank sample
|
|
D. Prosedur Eksperimen
Prosedur eksperimen yang dilakukan pada
percobaan X-Ray Fluorescence adalah sebagai berikut :
1. Menyiapkan
sampel blank.
2. Merangkai
alat X-Ray apparatus dan sensor CASSY
3.
Memasukkan dan
menempatkan sampel blank di Target Table dalam X-Ray Apparatus.
4. Mengatur
nilai High Voltage U=35kV, Emission Current I=1,00mA.
5. Memanggil
program CASSY Lab di PC,mengatur parameter pengukuran.
6. Menekan
HV pada X-Ray apparatus.
7. Menjalankan
program dengan menekan F9 pada keyboard.
8. Mengsave
gambar spektrum yang telah diperoleh.
9. Melakukan
langkah – langkah di atas untuk sampel blank yang lain.
10. Menganalisis hasilnya (unsur penyusun sampel)
dengan membandingkan dengan spektrum yang diberika asisten.
E. DATA PENGAMATAN
Sampel 1
Sampel 2
Sampel 3
Sampel 4
Sampel
5
Sampel
6
Sampel 7
Sampel 8
Sampel 9
Sampel 10
Asisten Pembimbing
Refliyanis Munandar
F.
PEMBAHASAN
X-ray Flourescence merupakan titik analisa yang non-deduktif yang
digunakan untuk mengidentifikasi konsentrasi elemen yang ada pada padatan,
bubuk atau sample cair. Secara umum X-ray Flourescence mengukur panjang
gelombang komponen material secara individu dari emisi floursensi yang
dihasilkan sampel saat radiasi dengan sinar x. Analisa menggunakan X-ray
Flourescence dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan karakteristik
sinar x yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena
electron dalam atom target pada sampel terkena sinar berenergi tinggi.
Pada percobaan X-ray Flourescence dilakukan untuk mengamati
kandungan dan jumlah energi terdapat pada sampel blank dengan menggunakan alat X-ray
Apparatus.
G.
KESIMPULAN
Dari pembahasan di atas dapat ditarik kesimpulan yaitu :
1.
Untuk
mengetahui prinsip kerja metode X-Ray fluorescence dilakukan berdasarkan
identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar X yang terjadi akibat efek
fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena electron dalam atom pada sampel
yang terkena sinar yang berenergi tinggi.
H.
DAFTAR
PUSTAKA